廖承宇做受被C22分钟视频,亚洲色精品VR一区二区三区,亚洲AV无码一区二区二三区软件,99久久久国产精品免费蜜臀

歡迎來(lái)到岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司東莞分公司網(wǎng)站!
岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司東莞分公司
咨詢(xún)熱線(xiàn)

4008529632

當(dāng)前位置:首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  晶圓缺陷檢測(cè)  >  

  • CI8化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置

    LODAS™ – CI8是列真株式會(huì)社推出的一款化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):CI8
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:2349
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模塊;輪廓、量測(cè)和檢查模塊;

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:736
  • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

    iFocus是一款用于晶圓外觀(guān)缺陷檢測(cè)設(shè)備,利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),可以精確量測(cè)Bumping高度,Bumping共面性等特征。可適用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chǎn)品外觀(guān)檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:990
  • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置

    LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):LODAS™ – LI系列
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:988
  • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):LODAS™ – BI12
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:883
  • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-03-19
    型號(hào):LODAS™ – BI8
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1003
共 9 條記錄,當(dāng)前 1 / 2 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)